Thue-Morse格子上の電子系のZ2 Berry phaseを用いたトポロジカルな特徴付け
Thue-Morse格子上の電子系のZ2 Berry phaseを用いたトポロジカルな特徴付け
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使用 Z2 Berry 相对 Thue-Morse 晶格上的电子系统进行拓扑表征
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
桂法称
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坪田祥一;赤城裕;桂法称
