Y.Ju, (M.Saka, T.Hiroshima): "Nondestructive Detection of Small Cracks in Polycrystalline Silicon Substrates Using Millimeter Waves"Proc.6th Far-East Conference on Nondestructive Testing. 535-539 (2002)
Y.Ju, (M.Saka, T.Hiroshima): "Nondestructive Detection of Small Cracks in Polycrystalline Silicon Substrates Using Millimeter Waves"Proc.6th Far-East Conference on Nondestructive Testing. 535-539 (2002)
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Y.Ju，（M.Saka，T.Hiroshima）：“使用毫米波对多晶硅基板中的小裂纹进行无损检测”Proc.6th 远东无损检测会议。
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