電子ストレステンソル密度によるGe, Sb, Te 原子を含む化学結合に対する理論的研究
電子ストレステンソル密度によるGe, Sb, Te 原子を含む化学結合に対する理論的研究
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使用电子应力张量密度对涉及 Ge、Sb 和 Te 原子的化学键进行理论研究
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
立花 明知
中科院分区：
文献类型：
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作者：
埜崎 寛雄;市川 和秀;立花 明知
