High-temperature tensile testing machine for investigation of brittle-ductile transition behavior of single crystal silicon microstructure
High-temperature tensile testing machine for investigation of brittle-ductile transition behavior of single crystal silicon microstructure
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用于研究单晶硅微观结构脆塑转变行为的高温拉伸试验机
DOI：
10.7567/jjap.54.06fp04
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发表时间：
2015
影响因子：
1.5
通讯作者：
上杉晃生，安富貴浩，平井義和，土屋智由，田畑修
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Minato Hirano;Kentaro Yoshii;Mizuki Sakai;Rie Hasebe;Osamu Ichii and Hiroaki Kariwa;上杉晃生，安富貴浩，平井義和，土屋智由，田畑修
