The GEM stability test against frequent high voltage on and off switching
The GEM stability test against frequent high voltage on and off switching
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GEM针对频繁高压开关的稳定性测试
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Zhou
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Oda;Dr. A. Hayato;K. Nishida;M. Kubota;T. Kitaguchi;T. Enoto;T. Tamagawa;T. Nakano;W. Iwakiri;Y. Zhou
