X線磁気円二色性(XMCD)法を用いた磁性薄膜研究―材料中における磁性元素の元素選択的状態分析―
X線磁気円二色性(XMCD)法を用いた磁性薄膜研究―材料中における磁性元素の元素選択的状態分析―
复制标题
使用X射线磁圆二色性（XMCD）法的磁性薄膜研究 - 材料中磁性元素的元素选择状态分析 -
DOI：
--
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
酒巻真粧子
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
生田 昂;丹波 俊輔;金井 康;小野 尭生;大野 恭秀;前橋 兼三;井上 恒一;家 裕隆;安蘇 芳雄;松本 和彦;酒巻真粧子
