Peierls or Jahn-Teller effect in endohedrally doped silicon clathrates: An EXAFS study
Peierls or Jahn-Teller effect in endohedrally doped silicon clathrates: An EXAFS study
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内嵌掺杂硅包合物中的 Peierls 或 Jahn-Teller 效应：一项 EXAFS 研究
DOI：
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发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Pouchard
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Brunet;P. Mélinon;A. Miguel;P. Kéghélian;A. Pérez;A. Flank;E. Reny;C. Cros;M. Pouchard
