Surface characterization of fluorinated nanocarbon film with scanning electrochemical microscopy (SECM)

Surface characterization of fluorinated nanocarbon film with scanning electrochemical microscopy (SECM)
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使用扫描电化学显微镜 (SECM) 表征氟化纳米碳薄膜

DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Osamu Niwa
Osamu Niwa
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Akio Ueda;Tomoyuki Kamata;Dai Kato;Naoyuki Sekioka;Ryoji Kurita;Shigeru Hirono;Shigeru Umemura;Fujio Okino;Hidekazu Tohara;Osamu Niwa

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