Microstructural Characterization of Nanocrystalline Nickel Thin Films by X-Ray Diffraction
Microstructural Characterization of Nanocrystalline Nickel Thin Films by X-Ray Diffraction
复制标题
X 射线衍射表征纳米晶镍薄膜的微观结构
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Kimachi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Tanaka;M. Sakakibara;H. Tanaka;H. Kimachi
影响因子：
4.5
作者：
ELSHERIK, AM;ERB, U
通讯作者：
ERB, U
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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作者：
小林公一;坂本信;Li GUOAN;田邊裕治;古賀良生;佐藤卓;大森豪;Keisuke Tanaka
通讯作者：
Keisuke Tanaka