Advances in Testing and Design-for-Test Solutions for M3D Integrated Circuits
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M3D 集成电路测试和测试设计解决方案的进展
DOI：
10.23919/date51398.2021.9473921
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Chakrabarty, Krishnendu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Banerjee, Sanmitra;Chaudhuri, Arjun;Hung, Shao-Chun;Chakrabarty, Krishnendu
