Role of defect relaxation for trap-assisted tunneling in high-κ thin films: A first-principles kinetic Monte Carlo study
Role of defect relaxation for trap-assisted tunneling in high-κ thin films: A first-principles kinetic Monte Carlo study
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高δ薄膜中缺陷弛豫对陷阱辅助隧道效应的作用：第一性原理动力学蒙特卡罗研究
DOI：
10.1103/physrevb.85.045303
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发表时间：
2012
影响因子：
3.7
通讯作者：
A. Kersch
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Jegert;D. Popescu;P. Lugli;M. J. Häufel;W. Weinreich;A. Kersch
