Direct Measurement of Refractive Index based on 2D Interferogram
Direct Measurement of Refractive Index based on 2D Interferogram
复制标题
基于二维干涉图的折射率直接测量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Wada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Hashimoto;M.Fuyuki;S.S.Kano;A.Wada
