Big tight closure test elements for some non-reduced excellent rings
Big tight closure test elements for some non-reduced excellent rings
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某些非还原优质环的大紧闭测试元件
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. Y. Sharp
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Y. Sharp
