Fast Imaging of 3-D Flaw Using Linearized Inverse Scattering Methods
Fast Imaging of 3-D Flaw Using Linearized Inverse Scattering Methods
复制标题
使用线性逆散射方法快速成像 3D 缺陷
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Kitahara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Nakahata;S.Hirose;M.Kitahara
层析成像的基本方法和反问题
DOI：
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发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
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作者：
G. Herman;H. Tuy;K. J. Langenberg
通讯作者：
K. J. Langenberg