Fast localized wavefront correction using area-mapped phase-shift interferometry.
Fast localized wavefront correction using area-mapped phase-shift interferometry.
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使用区域映射相移干涉测量法进行快速局部波前校正。
DOI：
10.1364/ol.36.002892
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
3.6
通讯作者：
Eliceiri,KevinW
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hall,Gunnsteinn;Spalding,GabrielC;Campagnola,PaulJ;White,JohnG;Eliceiri,KevinW
