小川智哉: "Crystal perfection and detection of defects just under wafer surfaces of semiconducting and insulating materials" Institute of Physice,Conference Series. 135. 127-130 (1994)
小川智哉: "Crystal perfection and detection of defects just under wafer surfaces of semiconducting and insulating materials" Institute of Physice,Conference Series. 135. 127-130 (1994)
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Tomoya Okawa：“半导体和绝缘材料晶片表面下的晶体完善和缺陷检测”物理研究所，会议系列 135. 127-130 (1994)。
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