Application of FIDA as a charge exchange loss measurement for NB-produced fast ions in small or medium-size devices
Application of FIDA as a charge exchange loss measurement for NB-produced fast ions in small or medium-size devices
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应用 FIDA 作为中小型设备中 NB 产生的快离子的电荷交换损失测量
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K.Nagasaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Nishimura;H.Yamaguchi;S.Kobayashi;S.Kado;T.Minami;S.Ohshima;H.Okada;Y.Nakamura;and K.Nagasaki
