Measuring bending stiffness of nanowires using force probe under electron microscope
Measuring bending stiffness of nanowires using force probe under electron microscope
复制标题
在电子显微镜下使用力探针测量纳米线的弯曲刚度
DOI：
--
复制
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and O. Takeuchi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Taninaka;G. Yazaki;T .Iijima;and O. Takeuchi
