Four-point probe measurement of non-uniformities in semiconductor sheet resistivity☆
Four-point probe measurement of non-uniformities in semiconductor sheet resistivity☆
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四点探针测量半导体薄层电阻率不均匀性☆
DOI：
10.1016/0038-1101(64)90038-3
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发表时间：
1964
影响因子：
1.7
通讯作者：
L. Swartzendruber
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Swartzendruber
