Thickness-dependent morphologies of thin Ag films on GaAs(110) as revealed by LEED and STM
Thickness-dependent morphologies of thin Ag films on GaAs(110) as revealed by LEED and STM
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LEED 和 STM 揭示了 GaAs(110) 上银薄膜的厚度相关形貌
DOI：
10.1016/s0039-6028(96)01393-3
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发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
K. Horn
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Neuhold;L. Bartels;J. Paggel;K. Horn
