GaNデバイスの並列接続時における特性差の検証
GaNデバイスの並列接続時における特性差の検証
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验证GaN器件并联时的特性差异
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
熊谷鷹・七森公碩・内海淳志・中川重康
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Komatsu Kazuki;Miyaji Yuichi;Uehara Hideyuki;大谷 俊介，平井 太智，黒田 勇幹，矢吹 佳子，山野井 佑介，東郷 俊太，姜 銀来，横井 浩史;熊谷鷹・七森公碩・内海淳志・中川重康
