CdTe 自己形成ドット中の Cr の荷電状態の ESR による検出
CdTe 自己形成ドット中の Cr の荷電状態の ESR による検出
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ESR检测CdTe自组装点中Cr的电荷状态
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
黒田 眞司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
井上 智貴;安藤 瞬;稲井 聡志;塩川 凛人;丸本 一弘;H. Boukari;L. Besombes;黒田 眞司
