Observation of self-cooling on power MOSFET with silicon wafers using infrared thermography
Observation of self-cooling on power MOSFET with silicon wafers using infrared thermography
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使用红外热成像技术观察硅片功率 MOSFET 的自冷却
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Kawahara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Nakatsugawa;Y. Okamoto;S. Yamaguchi;T. Kawahara
