スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
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考虑基于扫描的攻击的密码LSI测试方法
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
細川 利典
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉村 正義;西間木 淳;細川 利典
