平行平板型イオントラップとエンドキャップトラップの性能比較

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平行板离子阱与端盖离子阱性能比较

DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
野口昌起,佐野元哉,八ッ橋知幸,迫田憲治
野口昌起,佐野元哉,八ッ橋知幸,迫田憲治
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
宮下凌;野口昌起;八ッ橋知幸;迫田憲治;亀井航汰,佐野元哉,八ッ橋知幸,迫田憲治;亀井航汰,佐野元哉,八ッ橋知幸,迫田憲治;臼山拓実,原田美緒,三宅宏典,中島洋,八ッ橋知幸,迫田憲治;野口昌起,佐野元哉,八ッ橋知幸,迫田憲治

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