Spatially and tensor resolved Raman analysis for the determination of phonon deformation potentials on the microscopic scale in Si single-crystal
Spatially and tensor resolved Raman analysis for the determination of phonon deformation potentials on the microscopic scale in Si single-crystal
复制标题
空间和张量分辨拉曼分析用于确定硅单晶微观尺度上的声子变形势
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G.Pezzotti
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Miyatake;A.A.Porporati;G.Pezzotti
