Optical and Electrical Ebaluations of Defects in SiGe Thin Layer-猫眼课题宝

SiGe 薄层缺陷的光学和电学评估

DOI：

发表时间：

2007

期刊：

5th International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures, Extended Abstract

影响因子：

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中科院分区：

文献类型：

作者：

H.;Nakashima・D.;Wang