The impedance tomography problem
The impedance tomography problem
复制标题
阻抗断层扫描问题
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Boumenir
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Boumenir
使用算子理论框架和伪谱方法，我们提供了一个简单而明确的公式的电导率系数的Dirichlet到Neumann映射和拉普拉斯算子的特征值。
Using an operator theoretic framework and pseudo-spectral methods, we provide a simple and explicit formula for the conductivity coefficient in terms of the Dirichlet to Neumann map and the eigenvalues of the Laplacian operator.