Measurement of deformation in small area by electron moiré : method using nano-micro grid
Measurement of deformation in small area by electron moiré : method using nano-micro grid
复制标题
电子云纹测量小面积变形
DOI：
--
复制
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Yutaka Kagawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Satoshi Kishimoto;Qinghua Wang;Yutaka Kagawa
