Nakahata, K., Hirose, S., Kitahara, M: "Fast imaging of 3-D flaw using linearized inverse scattering methods"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. Vol.23(In press). (2004)
Nakahata, K., Hirose, S., Kitahara, M: "Fast imaging of 3-D flaw using linearized inverse scattering methods"Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation. Vol.23(In press). (2004)
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Nakahata, K.、Hirose, S.、Kitahara, M：“使用线性逆散射方法对 3-D 缺陷进行快速成像”定量无损评估进展回顾。
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