The SFM/ToF-SIMS combination for advanced chemically-resolved analysis at the nanoscale
The SFM/ToF-SIMS combination for advanced chemically-resolved analysis at the nanoscale
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SFM/ToF-SIMS 组合用于纳米级高级化学分辨分析
DOI：
10.1016/j.nimb.2014.02.131
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发表时间：
2014
影响因子：
1.3
通讯作者：
H. Hug
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L. Bernard;J. Heier;W. Paul;H. Hug
