K.Higashida, T.Kawamura, T.Morikawa, 他: "HVEM observation of crack tip dislocations in silicon crystals"Materials Science and Engineering A. - (2001)
K.Higashida, T.Kawamura, T.Morikawa, 他: "HVEM observation of crack tip dislocations in silicon crystals"Materials Science and Engineering A. - (2001)
复制标题
K.Higashida、T.Kawamura、T.Morikawa 等：“硅晶体中裂纹尖端位错的 HVEM 观察”材料科学与工程 A. - (2001)
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
