Particle beam mass spectrometry of submicron particles charged to saturation in an electron beam
Particle beam mass spectrometry of submicron particles charged to saturation in an electron beam
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电子束中带饱和电荷的亚微米粒子的粒子束质谱分析
DOI：
10.1016/0021-8502(95)00009-2
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发表时间：
1995
影响因子：
4.5
通讯作者：
P. Mcmurry
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Ziemann;Peng Liu;N. Rao;D. Kittelson;P. Mcmurry
