Quality and single-stuck faults
Quality and single-stuck faults
复制标题
质量和单卡故障
DOI：
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发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. McCluskey
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. McCluskey
IC生产测试的目标是避免出售不良部件。故障分级的目标是确保测试非常彻底，只有可接受的一小部分发货部件是不良的。故障分级几乎总是基于单一粘滞故障SSF模型。
The goal of IC production test is to avoid selling bad parts. The goal of fault grading is to assure that the test is so thorough that only an acceptably small fraction of shipped parts are bad. Fault grading is almost always based on a single-stuck fault, ssf, model.<<ETX>>