(Invited)High resolution terahertz spectroscopy for defect detection
(Invited)High resolution terahertz spectroscopy for defect detection
复制标题
(特邀)用于缺陷检测的高分辨率太赫兹光谱
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
田邉匡生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐々木哲朗;西澤潤一;田邉匡生
