Clocked storage elements robust to process variations
Clocked storage elements robust to process variations
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时钟存储元件对过程变化具有鲁棒性
DOI：
10.1109/asicon.2009.5351566
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
V. Oklobdzija
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Joosik Moon;M. Aktan;V. Oklobdzija
在这项工作中，不同类型的时钟存储元件进行了比较，在其性能上的工艺变化的影响。晶体管的尺寸是从能源效率的特点，并在模拟中使用，以测量的延迟变化所造成的工艺变化。时钟控制存储元件的结构影响其对工艺变化的鲁棒性。
In this work, different types of clocked storage elements are compared in terms of the impact of process variations on their performances. Transistor sizes are obtained from energy-efficient characteristics and used in the simulation to measure the delay variations caused by process variations. The structure of a clocked storage element affects its robustness to process variations.