In-Situ Control of Quantum Point Contacts Using Scanning Probe Microscopy Scratch Lithography
In-Situ Control of Quantum Point Contacts Using Scanning Probe Microscopy Scratch Lithography
复制标题
使用扫描探针显微镜划痕光刻对量子点接触进行原位控制
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. A. Tseng and J. Shirakashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Suda;T. Ohyama;A. A. Tseng and J. Shirakashi
