Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-smooth sapphire substrates by synchrotroi X-ray diffraction measurements
Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-smooth sapphire substrates by synchrotroi X-ray diffraction measurements
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通过同步X射线衍射测量在超光滑蓝宝石衬底上外延生长的NiO超薄膜的结构分析
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Yoshimoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O.Sakata;Min-Su Yi;A.Matsuda;J.Liu;S.Sato;S.Akiba;A.Sasaki;M.Yoshimoto
