C.Iwamoto, X.Q..Shen, H.Okumura, H.Matsuhata, Y.Ikuhara: "Structure Analysis of GaN Thin Film with Inversion Domains by High Voltage Atomic Resolution Microscopy"Mater.Trans.. 43. 1542-1546 (2002)
C.Iwamoto, X.Q..Shen, H.Okumura, H.Matsuhata, Y.Ikuhara: "Structure Analysis of GaN Thin Film with Inversion Domains by High Voltage Atomic Resolution Microscopy"Mater.Trans.. 43. 1542-1546 (2002)
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C.Iwamoto、X.Q..Shen、H.Okumura、H.Matsuhata、Y.Ikuhara：“通过高压原子分辨率显微镜对具有反转域的 GaN 薄膜进行结构分析”Mater.Trans.. 43. 1542-1546 (2002)
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