3D measurement using light field microscopy with improved resolution, Workshop on microscopy
3D measurement using light field microscopy with improved resolution, Workshop on microscopy
复制标题
使用分辨率更高的光场显微镜进行 3D 测量，显微镜研讨会
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. T. Miura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Usuki;Y. Ohashi;K. T. Miura
