SiO_2 Protection Thickness Dependence of Bandgap Wavelength Shift in Quantum-well Intermixing for InP-based Membrane Photonic Integration on Si
SiO_2 Protection Thickness Dependence of Bandgap Wavelength Shift in Quantum-well Intermixing for InP-based Membrane Photonic Integration on Si
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Si 上 InP 基薄膜光子集成量子阱混合中 SiO_2 保护厚度对带隙波长偏移的依赖性
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Jieun Lee
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Doi;T. Shindo;J. Lee;T. Amemiya;N. Nishiyama;and S. Arai;Jieun Lee
