Atomic force microscope current-imaging study for current density through nanocrystalline silicon dots embedded in SiO_2
Atomic force microscope current-imaging study for current density through nanocrystalline silicon dots embedded in SiO_2
复制标题
SiO_2 中纳米晶硅点电流密度的原子力显微镜电流成像研究
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Willander
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.A.Salem;H.Mizuta;S.Oda;Y.Fu;M.Willander
