Aberration correction results in the IBM STEM instrument.
Aberration correction results in the IBM STEM instrument.
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IBM STEM 仪器中的像差校正结果。
DOI：
10.1016/s0304-3991(03)00091-3
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
P. Batson
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Batson
