Radiation Hardened Silicon Carbide Electronics
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复制标题
抗辐射碳化硅电子产品
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.-I. Kuroki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Muraoka;S. Ishikawa;H. Sezaki;T. Maeda;T. Makino;T. Ohshima;S.-I. Kuroki
