Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors
Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors
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基于 Boxcar 平均的扫描非线性介电显微镜及其在二维半导体载流子分布成像中的应用
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kohei Yamasue;Yasuo Cho
