微細プロセスにおける耐ソフトエラー集積回路の設計手法
微細プロセスにおける耐ソフトエラー集積回路の設計手法
复制标题
微处理中抗软错误集成电路的设计方法
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野寺秀俊
中科院分区：
文献类型：
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作者：
古田潤;山本亮輔;増田政基;岡田翔伍;久保田勘人;小林和淑;小野寺秀俊
