Improved SPR technique for determination of the thickness and optical constants of thin metal films
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DOI：
10.1023/a:1026219429050
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发表时间：
2003-09
影响因子：
3
通讯作者：
Y. Ding;Z. Cao;Q. Shen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Ding;Z. Cao;Q. Shen
