長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
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在长期可靠性测试期间使用片上延迟测量来观察劣化
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
三浦幸也
中科院分区：
文献类型：
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作者：
三宅庸資;加藤隆明;梶原誠司;麻生正雄;二見治司;松永恵士;三浦幸也
