Generalized Aspects of Multiple-Wavelength Techniques in Optical Metrology
Generalized Aspects of Multiple-Wavelength Techniques in Optical Metrology
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光学计量中多波长技术的概括
DOI：
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发表时间：
1995
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G. Weres
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Pfeifer;R. Tutsch;J. Evertz;G. Weres
