H. Sakaue, E. Takahashi. S. Shingubara, T. Takahagi: "Scanning Tunneling Microscopy Observation on Atomic stracture of Step Edges and Etch Pits on a NH_4F-Treated Si(111) Surface" Jpn. J. Appl. Phys.36 3B(未定). (1997)
H. Sakaue, E. Takahashi. S. Shingubara, T. Takahagi: "Scanning Tunneling Microscopy Observation on Atomic stracture of Step Edges and Etch Pits on a NH_4F-Treated Si(111) Surface" Jpn. J. Appl. Phys.36 3B(未定). (1997)
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H. Sakaue、E. Takahashi、S. Shingubara、T. Takahagi：“NH_4F 处理的 Si(111) 表面上的阶梯边缘和蚀刻坑的原子结构的扫描隧道显微镜观察”J. Appl. 36。 3B（未定）（1997）。
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